高溫紅外測(cè)溫儀是利用高性能微處理控制技術(shù)來(lái)進(jìn)行物體溫度測(cè)量的儀器。高溫紅外測(cè)溫儀裝有目視光學(xué)瞄準(zhǔn)系統(tǒng)，有測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好、響應(yīng)快等特點(diǎn)。高溫紅外測(cè)溫儀可廣泛應(yīng)用于亮金屬加工等行業(yè)快速非接觸地測(cè)量物體表面的溫度。其耗能小，耗材少等特點(diǎn)，在保證了優(yōu)良性能的同時(shí)減小了對(duì)環(huán)境的污染。

　　紅外測(cè)溫所處的環(huán)境條件對(duì)測(cè)量結(jié)果有很大影響,應(yīng)加以考慮、并適當(dāng)解決,否則會(huì)影響測(cè)溫精度甚至引起測(cè)溫儀的損壞。

　　一、環(huán)境溫度對(duì)紅外線測(cè)溫儀性能的影響

　　環(huán)境溫度分為兩種情況:一是實(shí)測(cè)目標(biāo)的環(huán)境，二是紅外線測(cè)溫儀住所的環(huán)境溫度。如果被測(cè)目標(biāo)背景溫度高于被測(cè)目標(biāo)或與被測(cè)目標(biāo)溫度近，會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。而當(dāng)紅外線測(cè)溫儀住所的環(huán)境溫度超出測(cè)溫儀所能承受的范圍，也會(huì)對(duì)測(cè)溫結(jié)果產(chǎn)生影響。

　　二、潮濕環(huán)境對(duì)紅外線測(cè)溫儀性能的影響

　　潮濕環(huán)境可造成測(cè)溫儀內(nèi)部短路，進(jìn)而影響測(cè)量結(jié)果。

　　三、測(cè)溫儀測(cè)溫現(xiàn)場(chǎng)因素：

　　(1).測(cè)量角度，是否在允許范圍內(nèi)；

　　(2).是否正確瞄準(zhǔn)

　　(3).選擇的光譜范圍（波長(zhǎng)）是否合適，對(duì)于測(cè)量有玻璃窗口的容器內(nèi)目標(biāo)時(shí)，光譜范圍不能選擇8～14μm，而應(yīng)選擇1μm附近的；

　　四、強(qiáng)光背景里目標(biāo)得測(cè)量：

　　若被測(cè)目標(biāo)有比較光亮背景光（比如太陽(yáng)光或強(qiáng)燈直射），則測(cè)量得準(zhǔn)確性也會(huì)受到影響，因此可采用物體遮擋直射目標(biāo)得強(qiáng)光以消除背景光干擾產(chǎn)生測(cè)量結(jié)果得影響。